表面性狀測定采用尼康自主開發的方式——“FVWLI(Focus Variation with White Light Interferometry)法”。該方法可使對象材料的表面生成干涉紋,高精度決定各像素的焦點位置。通過使用這種方式,可在2.5倍(視野4.4×4.4mm)至100倍(視野111.0×110.0μm)的所有倍率下實現三維算數平均高度(Sa)為0.1nm級別的表面性狀評估。能夠以單一模式測定超平滑表面到粗糙表面,無需更換光學濾光片等部件。另外,在測定膜厚時使用光譜干涉法。能以不到0.1秒的時間測定厚度為1nm~40μm的透明薄膜的厚度。